Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW

• Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2004

  Tematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia

• Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz
  • M. Gnyba
  • P. Wroczyński

  - Rok 2004

  W artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...

• Wpływ współczynnika promienia walca i stosunku grubości warstw na odkształ- cenie warstwy twardej. The influence of radius of rolls coefficient and re-lations of thickness layers at the deformation of hard layers of bimetalic plate

  Publikacja

  • D. Rydz
  • R. Skoblik

  - Rok 2003

  W pracy przedstawiono analizę numeryczną walcowania blachy platerowanej 18 G2A i 0H18N10T. Wytwarzanie blach dwuwarstwowych jest procesem trudnym do rozwiązania na drodze teoretycznej. Do analizy procesu wykorzystano program Forge 2 oparty na teorii elementów skończonych. Artykuł przedstawia wpływ wartości współczynnika promienia walcaH/R i stosunku grubości warstw HT/HM na charakter rozkładu odkształceń blachy dwuwarstwowej.

• Chromatic monitoring technique for thickness measurementof thin transparent films.IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz

  - Proceedings of SPIE - Rok 2003

  W pracy opisano nową technikę monitorowania grubości cienkich warstw podczas procesu ich syntezy. Jest to optyczna metoda oparta na zdegenerowanej analizie widmowej tzw. modulacji chromatycznej. Umożliwia ona precyzyjny ciągły pomiar zmian grubości wzrastających warstw stosowanych w optyce.

• Effect of temperature and gaseous medium on the structure and microhardness of the cobalt base clad layers

  Publikacja

  • H. Smoleńska

  - CHEMICKE LISTY - Rok 2010

  Badano wpływ temperatury utleniania na mikrostrukturę i mikrotwardość napawanych warstw ze stopu kobaltu. Warstwy wytwarzano za pomocą napawania plazmowego (pta) na przylgniach zaworów wylotowych wykonanych ze stali x40CrSiMo10-2. Stop kobaltu był poddany utlenianiu w powietrzu w temperaturach od 750 °C to 1100 °C i w gazach wylotowych w temperaturze 750 °C. W wyniku utleniania zaobserwowano zmanę w mikrotwardości warstw. W zewnętrznej...

• Zastosowanie interferometrii niskokoherentnej do jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika załamania struktur warstwowych

  Publikacja

  • J. Pluciński
  • M. Strąkowski
  • B. Kosmowski

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2010

  W pracy przedstawiono techniki oparte na interferometrii niskokoherentnej jednoczesnego pomiaru współczynnika załamania i grubości struktur warstwowych. Zaproponowano dwie metody: pierwsza oparta jest na pomiarze położenia górnej powierzchni granicznej warstwy i jej grubości optycznej (położenie dolnej powierzchni granicznej powinno być znane wcześniej); druga oparta jest na wykorzystaniu dynamicznego ogniskowania wiązki laserowej....

• Piotr Jasiński prof. dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Inżynierii Materiałów Funkcjonalnych WETI

  Piotr Jasinski obtained MSc in electronics in 1992 from the Gdansk University of Technology (GUT), Poland. Working at GUT, he received PhD in 2000 and DSc in 2009. Between 2001 and 2004 Post Doctoral Fellow at Missouri University of Science and Technology, while between 2008 and 2010 an Assistant Research Professor. Currently is an Associate Professor at Gdansk University of Technology working in the field of electronics, biomedical...

• Electrical conductivity of NbN-SiO2 films obtained by ammonolysis of Nb2O5-SiO2 sol-gel derived coatings

  Publikacja

  • B. Kościelska

  - JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS - Rok 2008

  W pracy przedstawiono badania przewodnictwa elektrycznego (w zakresie 5-280K) warstw NbN-SiO2 o grubości 450 nm. Warstwy uzyskano poprzez azotowanie otrzymanych metodą zol-żel warstw Nb2O5-SiO2, o różnym stosunku molowym Nb2O5/SiO2. Azotowanie takich warstw w temperaturze 1200C prowadzi do otrzymania metalicznych granul NbN w amorficznej matrycy SiO2. Struktura warstw była badana mikroskopem sił atomowych (AFM) oraz metodą dyfrakcji...

• Analysis of radial run-out of circular saw's cutting blades

  Publikacja

  • R. Wasielewski
  • T. Walkowiak

  - Rok 2005

  W pracy przedstawiono analizę bicia promieniowego ostrzy pił tarczowych w procesie przecinania drewna. Analizę przeprowadzono na podstawie zróżnicowania grubości warstw skrawanych przez poszczególne ostrza piły. Dla przykładowej piły, zaprezentowano wyniki obliczeń przebiegów grubości warstw skrawanych przez poszczególne ostrza i grubości całkowitej warstwy skrawanej dla całej piły.

• Spękania niskotemperaturowe warstw asfaltowych nawierzchni.

  Publikacja

  • M. Pszczoła

  - Rok 2006

  Niniejsza praca doktorska dotyczy spękań niskotemperaturowych warstw asfaltowych nawierzchni powodowanych spadkami temperatury występującymi w okresie mroźnych zim. Skutkiem obniżania się temperatury jest pojawienie się skurczu termicznego, który z uwagi na ograniczone przemieszczenia warstw asfaltowych w konstrukcji nawierzchni powoduje powstanie naprężeń termicznych. Wzrost wartości naprężeń termicznych następuje do momentu,...