Search
Filters
total: 415
-
Catalog
Search results for: analog
-
Analog filter design system for field programmable analog array.
PublicationObiektowy system do automatycznego projektowania filtrów kaskadowych i symetrycznych filtrów FLF z wykorzystaniem wzmacniaczy transkonuktancyjnych OTACi bloków bikwadratowych z optymalizacją zakresu dynamiki, zniekształceń i wrażliwości. System umożliwia realizację standardowych aproksymacji charakterystyk amplitudowych oraz dowolnie zdefiniowanych przez użytkownika.
-
Analog Game Studies
Journals -
Differentiation of Keratinocytes Modulates Skin HPA Analog
Publication -
High-performance analog circuits : bipolar noise
PublicationOmówiono typowe źródła szumów występujące w tranzystorach bipolarnych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS),lawinowe. Przedstawiono szumowy schemat zastępczy tranzystora bipolarnego oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Przytoczono informacje o zastępczej rezystancji tranzystora szumów oraz współczynniku szumów.
-
Analog modelling in qualitative analysis of vibration propagation
PublicationThe theory of dynamic systems is usually used to model the real systems. The models are based on solving ordinary differential equations, partial or difference, which enable obtaining the relation between input signal and the system response (output signal). The analogy between those models and generalized dynamic systems or control systems can be practically used. Vibration propagation can be described in a similar way as the...
-
Design of a 3.3V four-quadrant analog CMOS multiplier
PublicationW pracy przedstawiono dwa czterokwadrantowe mnożniki analogowe CMOS pracujące przy napięciu zasilania 3.3V. Układy wykorzystują tranzystory MOS pracujące zarówno w zakresie nasycenia jak i w zakresie triodowym. Wyniki symulacji komputerowych pokazują, że współczynnik zawartości harmonicznych (THD) sygnału wyjściowego jest mniejszy niż 0.75% dla sygnału wejściowego o amplitudzie 1V o częstotliwości 10MHz. Pasmo 3dB układu wynosi...
-
Analog multiplier for a low-power integrated image sensor
PublicationArtykuł przedstawia nowe podejście do projektowania tanich niskomocowych zintegrowanych sensorów optycznych. W odróżnieniu od wcześniej stosowanych rozwiązań opartych na masowym przetwarzaniu równoległym, zaproponowany mnożnik macierzowy charakteryzuje się korzystniejszymi cechami. Proponowane rozwiązanie, chociaż mniej elastyczne w sensie liczby możliwych do zaimplementowania algorytmów wstępnej obróbki obrazu, cechuje się znaczącą...
-
Analog multiplier for a low-power integrated image sensor
PublicationArtykuł przedstawia nowe podejście do projektowania tanich niskomocowych zintegrowanych sensorów optycznych. W odróżnieniu od wcześniej stosowanych rozwiązań opartych na masowym przetwarzaniu równoległym, zaproponowany mnożnik macierzowy charakteryzuje się korzystniejszymi cechami. Proponowane rozwiązanie, chociaż mniej elastyczne w sensie liczby możliwych do zaimplementowania algorytmów wstępnej obróbki obrazu, cechuje się znaczącą...
-
Is Digitalization Improving Governance Quality? Correlating Analog and Digital Benchmarks
PublicationThe digitalization of public governance and the resulting concept of electronic governance is a characteristic feature of contemporary information society. Both can be defined as the process and outcome of digital transformation: transformation of the “analog” version of governance into “digital” governance. Measuring both versions of governance against typical performance measures of efficiency, effectiveness, equity, openness...
-
On analog comparators for CMOS digital pixel applications. A comparative study
PublicationVoltage comparator is the only – apart from the light-to-voltage converter – analog component in the digital CMOS pixel. In this work, the influence of the analog comparator nonidealities on the performance of the digital pixel has been investigated. In particular, two versions of the digital pixel have been designed in 0.35 μm CMOS technology, each using a different type of analog comparator. The properties of both versions have...
-
Test limitations induced by fault-driven instability of analog circuits.
PublicationCelem pracy jest ocena ograniczeń testowania uszkodzeń parametrycznych wynikajacych z utraty stabilności przez testowany układ analogowy. Zastosowano metody zapożyczone z teorii sterowania: liniową transformacje frakcyjną i analizę metodą strukturalnych wartości szczególnych. Przykładowej analizie poddano filtr typu leapfrog. Do obliczeń wykorzystano środowisko Matlab/Simulink. Wyniki obliczeń wykazały dużą podatność testowanego...
-
Fault diagnosis of analog piecewise linear circuits based on homotopy
PublicationArtykuł opisuje weryfikację metodą diagnostyki analogowych układów odcinkowo-liniowych opartą na podejściu homotopijnym. Homotopia przekształca jedną funkcję f(x) w inną funkcję g(x) poprzez zmianę parametru homotopii tî[0,1]. Ścieżka homotopijna pokazuje drogę od punktu x0 z dziedziny funkcji f(x) do odpowiadającego mu punktu x* funkcji g(x). Idea metody zakłada wykorzystanie funkcji f(x) do opisu diagnozowanego układu w stanie...
-
Virtual Models of Analog-Digital Converters in Education of Electrical Measurements and Instrumentation.
PublicationPrzedstawiono opracowane przez autorów przyrządy wirtualne do demonstracji działania przetworników analogowo-cyfrowych: integracyjnego, kompensacyjnego, sigma-delta, z pośrednim sygnałem częstotliwościowym. Programy umożliwiają obserwację zmian napięcia w punktach charakterystycznych układów w spowolnionej skali czasowej. Możliwe jest również zadawanie zakłóceń.
-
Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.
PublicationZaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację...
-
A versatile analog CMOS cell: voltage - buffer /current - conveyor/ multiplier
PublicationW pracy przedstawiono koncepcję uniwersalnej komórki analogowej przeznaczonej dla programowalnych układów analogowych (FPAA). Komórka może pełnić funkcję bufora napięciowego, konwjora prądowego lub mnożnika analogowego. Układ przesymulowano w technologii CMOS 2 ćm.
-
Anticandidal Activity of Omiganan and Its Retro Analog Alone and in Combination with Fluconazole
Publication -
The Anti-Tumoral Potential of Phosphonate Analog of Sulforaphane in Zebrafish Xenograft Model
Publication -
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublicationPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems
PublicationPrzedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...
-
A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
PublicationPrzedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...
-
An Ultra-Low-Energy Analog Comparator for A/D Converters in CMOS Image Sensors
PublicationThis paper proposes a new solution of an ultra-low-energy analog comparator, dedicated to slope analog-to-digital converters (ADC), particularly suited for CMOS image sensors (CISs) featuring a large number of ADCs. For massively parallel imaging arrays, this number may be as high as tens-hundreds of thousands ADCs. As each ADC includes an analog comparator, the number of these comparators in CIS is always high. Detailed analysis...
-
An Analog Sub-Miliwatt CMOS Image Sensor With Pixel-Level Convolution Processing
PublicationA new approach to an analog ultra-low power medium-resolution vision chip design is presented. The prototype chip performs low-level image processing algorithms in real time. Only a photo-diode, MOS switches and two capacitors are used to create an analog processing element (APE) that is able to realize any convolution algorithm based on a full 3x3 kernel. The proof-of-concept circuit is implemented in 0.35 µm CMOS technology,...
-
Analog CMOS processor for early vision processing with highly reduced power consumption
PublicationA new approach to an analog ultra-low power visionchip design is presented. The prototype chip performs low-levelconvolutional image processing algorithms in real time. Thecircuit is implemented in 0.35 μm CMOS technology, contains64 x 64 SIMD matrix with embedded analogue processors APE(Analogue Processing Element). The photo-sensitive-matrix is of2.2 μm x 2.2 μm size, giving the density of 877 processors permm2. The matrix dissipates...
-
Analog fault signature based on sigma-delta modulation and oscillation-test methodology.
PublicationW artykule dokonano przeglądu prac z zakresu testowania układów elektronicznych metodą oscylacyjną. Wskazując na niedostatki aktualnie stosowanej techniki testowania oscylacyjnego zaproponowano nową sygnaturę uszkodzeń dla układów analogowych. Proponowany parametr diagnostyczny jest wydobywany z odpowiedzi czasowej oscylatora testującego, w układzie złożonym z detektora szczytowego, modulatora sigma-delta oraz licznika rewersyjnego....
-
Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface
PublicationPrzedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów pomiaru cyfrowego nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione...
-
Implementation of an input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems
PublicationPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody 2D detekcji i lokalizacji uszkodzeń sieci analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów nieuszkodzonych w systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Metoda składa się z dwóch etapów: przedtestowego - tworzenie słownika uszkodzeń i testowego, w którym dokonywany jest pomiar przez mikrokontroler amplitudy i przesunięcia fazowego odpowiedzi na pobudzenie przebiegiem...
-
New method of fractional order integrator analog modeling for orders 0.5 and 0.25
Publication -
Using an IEEE1149.1 Test Bus for Fault Diagnosis of Analog Parts of Electronic Embedded Systems
PublicationThe new solution of a BIST called the JTAG BIST for self-testing of analog parts of electronic embedded systems is presented in the paper. The JTAG BIST consists of the BCT8244A and SCANSTA476 integrated circuits of Texas Instruments controlled via the IEEE 1149.1 bus. The BCT8244A is a scan test device with octal buffers, and the SCANSTA476 is a 12-bit ADC with 8 analog input channels. Self-testing approach is based on the fault...
-
Self-Testing of Analog Parts Terminated by ADCs Based on Multiple Sampling of Time Responses
PublicationA new approach for self-testing of analog parts terminated by analog-to-digital converters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It is based upon a new fault diagnosis method using a transformation of the set of voltage samples of the time response of a tested analog part to a square impulse into localization curves placed in a multidimensional measurement space. The method can be used...
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublicationThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
-
A field programmable analog array for CMOS continuous-time OTA-C filter applications
PublicationW artykule opisano programowalny wzmacniacz transkonduktancyjny oraz konfigurowalny blok analogowy CAB składający się ze wzmacniacza transkonduktancyjnego, kluczy oraz programowalnego kondensatora. Z bloków CAB można zbudować uniwersalne, programowalne filtry. Wzmacniacz transkondukancyjny został przesymulowany oraz wykonany w technologii CMOS. Wyniki pomiarów pokazują, że transkonduktancja wzmacniacza może być przestrajana ponad...
-
The Influence of Noise Level on the Value of Uncertainty in a Measurement System Containing an Analog-to-Digital Converter
Publication -
A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
PublicationA new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for...
-
A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
PublicationA new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single...
-
A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier
PublicationA new approach of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps of mixed-signal systems controlled by microcontrollers is presented. It consists of a measurement procedure and a fault diagnosis procedure. We measure voltage samples of a time response of a tested circuit on a stimulation of a unit step function given at the common-mode reference voltage input of the op-amp. The fault detection and fault localization...
-
Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4
PublicationW artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych:...
-
Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits
PublicationW pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...
-
Retro analog concept: comparative study on physico-chemical and biological properties of selected antimicrobial peptides
Publication -
New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits
PublicationIn the paper a new fault diagnosis-oriented neural network and a diagnostic method for localization of parametric faults in Analog Electronic Circuits (AECs) with tolerances is presented. The method belongs to the class of dictionary Simulation Before Test (SBT) methods. It utilizes dictionary fault signatures as a family of identification curves dispersed around nominal positions by component tolerances of the Circuit Under Test...
-
Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems
PublicationArtykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...
-
ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING
Journals -
A nine-input 1.25 mW, 34 ns CMOS analog median filter for image processing in real time
PublicationIn this paper an analog voltage-mode median filter, which operates on a 3 × 3 kernel is presented. The filter is implemented in a 0.35 μm CMOS technology. The proposed solution is based on voltage comparators and a bubble sort configuration. As a result, a fast (34 ns) time response with low power consumption (1.25 mW for 3.3 V) is achieved. The key advantage of the configuration is relatively high accuracy of signal processing,...
-
A fault diagnosis method for analog parts of embedded systems based on time response and identification curves in the 3-D space
PublicationPrzedstawiono nową wersję 3-D nowej metody diagnostycznej części analogowych w mieszanych sygnałowo systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Bazuje ona na krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni 3-D i pomiarze próbek napięcia odpowiedzi układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym. Zalety metody: pomiary są wykonywane wyłącznie za pomocą urządzeń peryferyjnych popularnych mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna...
-
Bioactive forms of vitamin D selectively stimulate the skin analog of the hypothalamus-pituitary-adrenal axis in human epidermal keratinocytes
Publication -
Effects of lightning and sprites on the ionospheric potential, and threshold effects on sprite initiation, obtained using an analog model of the global atmospheric electric circuit
Publication -
Experimental Study of the Influence of Noise Level on the Uncertainty Value in a Measurement System Containing an Analog-to-Digital Converter
Open Research DataFor newly developed measuring systems it is easy to estimate type B uncertainties based on the technical data of the measuring modules applied. However, it is difficult to estimate A type un-certainties due to the unknown type and level of interferences infiltrating into the measuring sys-tem. This is a particularly important problem for measurements...
-
Detoxification of the tricyclic antidepressant opipramol and its analog – IS-noh by UGT enzymes before and after activation by phase I enzymes in rat liver microsomes
PublicationThe present studies were carried out to evaluate the simultaneous one-pot metabolism of opipramol (IS-opi) and analog (IS-noh) by phase I and phase II enzymes present in rat liver microsomes (RLM) as an alternative to separate testing with recombinant enzymes. This approach allows for more time-saving and cost-effective screening of the metabolism of newly discovered drugs. We also considered that the lack of results for phase...
-
Diminshed toxicity of C-1748, 4-methyl-9-hydroxyethylamino-1-nitroacridine, compared with its demethyl analog, C-857, corresponds to its resistance to metabolism in HepG2 cells
PublicationThe narrow "therapeutic window" of anti-tumour therapy may be the result of drug metabolism leading to the activation or detoxification of antitumour agents. The aim of this work is to examine (i) whether the diminished toxicity of a potent antitumour drug, C-1748, 9-(2'-hydroxyethylamino)-4-methyl-1-nitroacridine, compared with its 4-demethyl analogue, C-857, results from the differences between the metabolic pathways for the...
-
Diminished toxicity of C-1748, 4-methyl-9-hydroxyethylamino-1-nitroacridine, compared with its demethyl analog, C-857, corresponds to its resistance to metabolism in HepG2 cells
Publication -
Analogi, jej analogi i koniugaty
PublicationAdenozyna jest endogennym nukleozydem purynowym odgrywającym ważną rolę w wielu procesach biochemicznych organizmu. Swoje działanie na wiele układów, takich jak sercowo-naczyniowy, moczowo-płciowy, immunologiczny, nerwowy czy oddechowy, wywiera poprzez wiązanie się z receptorami dla adenozyny: A1, A2A, A2B i A3. Adenozyna znalazła zastosowanie jako lek przeciwarytmiczny w napadowym częstoskurczu nadkomorowym, jednak z powodu jej...