Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 52
wybranych: 39
-
Katalog
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: mikrokontrolery
-
Mikrokontrolery STM8S - pierwsze kroki (1)
PublikacjaArtykuł zawiera pierwszą część krótkiego kursu programowania mikrokontrolerów STM8S
-
mikrokontrolery stm8s - pierwsze kroki (2)
PublikacjaArtykuł zawiera drugą część krótkiego kursu programowania mikrokontrolerów STM8S
-
Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością...
-
STM32: Aplikacje i ćwiczenia w języku C. - M. Galewski. -
PublikacjaW książce przedstawiono nowoczesne, 32-bitowe mikrokontrolery z rodzeniem ARM Cortex-M3. Oprócz opisu poszczególnych ich podukładów, zawarto w niej przede wszystkim wiele przykładowych ćwiczeń, których zaawansowanie jest stopniowane, dzięki czemu czytelnicy są łagodnie wprowadzani w omawianie zagadnienia. Przykłady zamieszczone w książce są bardzo różnorodne, bazują m.in. na czujnikach przyspieszenia i ciśnienia MEMS, interfejsie...
-
PSoC embedded systems and its potential applications in wireless sensors network
PublikacjaW artykule zostanie przedstawiona koncepcja bezprzewodowej sieci sensorowej z wykorzystaniem mikrokontrolerów PSoC firmy Cypress. Mikrokontrolery PSoC (ang. Programmable System on a Chip) to 8-bitowe uniwersalne układy programowalne znajdujące zastosowanie między innymi w przemyśle, elektronice medycznej, telekomunikacji i samochodowych systemach sterowania. Mikrokontrolery PSoC pozwalają użytkownikom wybierać rodzaj i liczbę peryferiów...
-
Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.
PublikacjaZaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację...
-
Dwa zastosowania procesorów sygnałowych w układach przetwarzania i akwizycji danych
PublikacjaW ciągu ostatnich kilku lat nastąpił skokowy wzrost liczby aplikacji stosujących mikrokontrolery i mikroprocesory w układach pomiarowych. Ten wzrost dotyczy także zastosowań procesorów sygnałowych, pozwalających na wstępne przetwarzanie rejestrowanych danych w czasie rzeczywistym. Możliwość wstępnego przetwarzania istotnie ogranicza liczbę przechowywanych lub przesyłanych do nadrzędnego komputera parametrów w stosunku do liczby...
-
PROJEKT I WDROŻENIE ZAAWANSOWANEGO SYSTEMU TELEMETRII DO POMIARÓW ZACHOWANIA BOLIDU FORMULA STUDENT
Publikacjapracy przedstawiono proces projektowania i wytworzenia zaawansowanego systemu telemetrii, który został zaaplikowany w piątej generacji bolidu stworzonego przez zespół PGRacing Team. Zastosowanie tego rozwiązania pozwoliło na optymalizację konstrukcji i ustawienia zawieszenia pojazdu. Zebrane dane pochodzą z sensorów, w których skład wchodzą m. in. GPS, akcelerometr, czujniki temperatury opon, liniowe czujniki skoku zawieszenia,...
-
Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
PublikacjaPrzedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji...
-
Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems
PublikacjaArtykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...
-
An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano...
-
Wykorzystanie standardu ZigBee do budowy rozproszonego systemu do spektroskopii impedancyjnej obiektów w terenie
PublikacjaZaproponowano bezprzewodową sieć pomiarową składającą się z dwóch typów elementtów: węzłów pomiarowych realizujących pomiary badanego obiektu (np. spektroskopii impedancyjnej powłok na konstrukcjach metalowych mostu) i jednego koordynatora ZigBee, który zarządza tą siecią oraz łączy ją do sieci internetowej. Węzeł końcowy składa się z modułu pomiarowego bazującego na układach AD5933 i z modułu komunikacyjnego ZIG-ZDM-A2 firmy MeshNetics....
-
A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...
-
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublikacjaPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublikacjaW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym
PublikacjaW pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...
-
Microcontroller driven miniaturized digital depth sounder.
PublikacjaPrzedstawiono schemat blokowy, specyfikację techniczną oraz zasadę działania miniaturowej echosondy cyfrowej, sterowanej mikrokontrolerem PIC16F873.Specjalistyczne oprogramowanie echosondy umożliwia prezentację echogramów w czasie rzeczywistym oraz udostępnianie ich w sieci Internet w typowych przeglądarkach WWW.
-
Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.
PublikacjaZaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą...
-
Implementacja zmodyfikowanej metody biliniowej 2D w elektronicznym systemie wbudowanym
PublikacjaPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody biliniowej 2D diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda cechuje się prostym algorytmem diagnostycznym, który z powodzeniem można zaimplementować w 8-bitowych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI, oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody...
-
A fault diagnosis method for analog parts of embedded systems based on time response and identification curves in the 3-D space
PublikacjaPrzedstawiono nową wersję 3-D nowej metody diagnostycznej części analogowych w mieszanych sygnałowo systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Bazuje ona na krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni 3-D i pomiarze próbek napięcia odpowiedzi układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym. Zalety metody: pomiary są wykonywane wyłącznie za pomocą urządzeń peryferyjnych popularnych mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna...
-
Implementacja metody diagnostycznej opartej na odpowiedzi czasowej i krzywych identyfikacyjnych w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
PublikacjaPrzedstawiono implementację nowej metody detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych układów analogowych w mieszanym sygnałowo mikrosystemie sterowanym mikrokontrolerem. Idea metody bazuje na przekształceniu transformującym zmiany odpowiedzi układu na impuls prostokątny wynikające ze zmian wartości poszczególnych elementów na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda ta nie wprowadza nadmiarowości sprzętowej...
-
Implementation of an input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems
PublikacjaPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody 2D detekcji i lokalizacji uszkodzeń sieci analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów nieuszkodzonych w systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Metoda składa się z dwóch etapów: przedtestowego - tworzenie słownika uszkodzeń i testowego, w którym dokonywany jest pomiar przez mikrokontroler amplitudy i przesunięcia fazowego odpowiedzi na pobudzenie przebiegiem...
-
Design of a modular impedance tomography
PublikacjaW pracy przedstawiono konstrukcję, zasadę działania oraz podstawowe parametry tomografu impedancyjnedo przeznaczonego do pomiarów w gruncie.
-
Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.
PublikacjaPrzedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń...
-
A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems
PublikacjaPrzedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...
-
Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
PublikacjaPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania...
-
Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję...
-
A compact smart resistive sensor based on a microcontroller
PublikacjaPrzedstawiono nowe rozwiązanie inteligentnego czujnika rezystancyjnego bazującego na mikrokontrolerze, w którym czujnik rezystancyjny jest elementem składowym filtra anty-aliazingowego przetwornika A/C. Procedura pomiaru temperatury obejmuje pobudzenie filtra dwoma impulsami prostokątnymi o zadanym czasie trwania oraz próbkowanie jego odpowiedzi czasowej. Następnie na podstawie wartości pomierzonych próbek napięcia wyznaczana jest...
-
Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrole-rami
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbu-dowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpo-wiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda...
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikato-rach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
PublikacjaPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzysta-niem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera....
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublikacjaPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
-
Układy uC szansą na masową popularyzację elektroniki
PublikacjaFelieton popularnonaukowy dotyczący przyszłości elektroniki.
-
Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych syste-mów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
PublikacjaPrzedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikro-kontrolera. Licznik mikrokontrolera...
-
Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Publikacja..
-
A microcontroller system for measurement of three independent components in impedance sensors using a single square pulse
PublikacjaOpracowano nową metodę pomiaru w dziedzinie czasu i wyznaczania trzech składowych elementów modelu czujnika impedancyjnego oraz zaimplementowano ją w inteligentnym czujniku impedancji sterowanym 8-bitowym mikrokontrolerem. Metoda bazuje na pobudzeniu dzielnika napięciowego składającego się z rezystora pełniącego funkcję konwertera prąd na napięcie i z czujnika impedancji pojedynczym impulsem prostokątnym o czasie trwania T bezpośrednio...
-
Usage of Two-Center Basis Function Neural Classifiers in Compact Smart Resistive Sensors
PublikacjaA new solution of the smart resistance sensorwith the Two-Center Basis Function (TCBF) neuralclassifier, for which the resistance sensor is a component ofan anti-aliasing filter of an ADC is proposed. Thetemperature measurement procedure is based on excitationof the filter by square impulses, sampling time response ofthe filter and processing measured voltage values by theTCBF classifier. All steps of the measurement procedure...
-
Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses
PublikacjaW artykule przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym zbiór próbek odpowiedzi czasowej układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym na rodzinę krzywych identyfikacyjnych umieszczonych w przestrzeni...