Search
Filters
total: 271
filtered: 134
-
Catalog
Chosen catalog filters
Search results for: testowanie ukladow analogowych
-
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.
PublicationPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...
-
Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych.
PublicationPrzedmiotem pracy jest detekcja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych o architekturze w pełni różnicowej, cechującej się strukturalną redundancją ułatwiającą testowanie i diagnostykę. W oparciu o model matematyczny układów w pełni różnicowych, usystematyzowano metody ich testowania. Wykazano, że dotychczas stosowane metody są kosztowne w odniesieniu do układów ze wzmacniaczami operacyjnymi, w których zastosowano sprzężenie...
-
Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1
PublicationPrzedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublicationPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych
PublicationW artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych
PublicationPrzedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...
-
Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych
PublicationPrzedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...
-
Złote monety bulionowe – testowanie pasywnego charakteru inwestycji
PublicationCel – Wyznaczenie składu optymalnego portfela inwestycyjnego o minimalnym ryzyku, zawierającego inwestycję w polskie monety bulionowe (Orzeł Bielik) oraz inwestycję na polskiej giełdzie papierów wartościowych. Testowanie pasywnego charakteru inwestycji w monety. Metodologia badania – Konstrukcja portfeli inwestycyjnych o minimalnym ryzyku według teorii H.M. Markowitza. Autorska metoda badania pasywnego charakteru inwestycji...
-
Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo
PublicationOmówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
-
Testowanie koncepcji nowych produktów w niemieckich przedsiębiorstwach sprzętu gospodarstwa domowego
PublicationW artykule przedstawiono wyniki badania, odnośnie stosowania testowania koncepcji nowych produktów, przez niemieckich producentów sprzetu gospodarstwa domowego. Stwierdzono, że większość badanych firm stosuje testowanie koncepcji oraz, że występuje pozytywny związek pomiędzy stosowaniem tej metody a wynikami osiąganymi przy wdrażaniu nowych produktów.
-
Testowanie w przyrostowym i ewolucyjnym cyklu życia oprogramowania
PublicationArtykuł prezentuje doświadczenia dotyczące procesu testowania złożonego systemu internetowego rozwijanego w okresie ostatnich pięciu lat. System ten powstaje w cyklu przyrostowym i ewolucyjnym, przechodząc do kolejnych wydań. Rozróżniono wydania główne, które są poprzedzane pełnym zakresem testów regresji oraz wydania rozszerzające, gdzie zakres testowania jest zawężony. Wyjaśniono miejsce procesu testowania w kontekście zarządzania...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym
PublicationW referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych
PublicationWarystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...
-
Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych
PublicationWarystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...
-
Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych
PublicationW pracy przedstawiono budowę warystorów, z uwzględnieniem procesów zachodzących w ich strukturach i prowadzących do zmiany ich parametrów elektrycznych oraz wybrane sposoby testowania ich jakości.
-
Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
-
System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublicationNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
Testowanie koncepcji nowych produktów metodą ankietową.
PublicationCelem pracy jest przedstawienie istoty i roli testowania koncepcji nowego produktu przy użyciu metody ankietowej. Szczególną uwagę zwrócono na sposób konstrukcji kwestionariusza w tak przeprowadzanym teście koncepcji.
-
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublicationPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
Technika sygnałów analogowych. - Tom 1,2
Publicationom I składa się z sześciu rozdziałów. W rozdziale 1 scharakteryzowano sygnały, elementy, układy i systemy analogowe. Poznanie właściwości elementów ma kluczowe znaczenie przy przewidywaniu właściwości zbudowanych z nich układów elektronicznych. Podobnie znajomość podstawowych praw rządzących rozkładami prądów i napięć ma zasadnicze znaczenie dla zrozumienia metod analizy układów elektronicznych. Rozdział 2 jest poświęcony liniowym...
-
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.
PublicationPrzedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublicationW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych
PublicationZaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...
-
System wspierający testowanie platform telekomunikacyjnych czasu rzeczywistego
PublicationPublikacja ma na celu omówienie systemu, jaki został stworzony z myślą o testowaniu platform telekomunikacyjnych czasu rzeczywistego. System został zrealizowany jako na narzędzie, które jest w stanie w pełni automatycznie wykonywać testy oraz analizować ich wyniki, bez konieczności nadzorowania procesu egzekucji testów. Dokument zawiera opis struktury systemu, opartej na koncepcji agentów softwareowych, która pozwoliła na pełną...
-
Sieciowy system komputerowy wspomagający testowanie wiedzy uczniów
PublicationW referacie przedstawiono organizację sieciowego systemu komputerowego wspomagającego tworzenie i przeprowadzanie testów. Omówiono przypadki użycia systemu z punktu widzenia administratora sieci, nauczyciela i ucznia, a także przypadki wspólne dla wszystkich użytkowników systemu. Podano opis interfejsu dla poszczególnych grup użytkowników.
-
Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikato-rach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
PublicationPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzysta-niem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera....
-
Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych syste-mów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
PublicationPrzedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikro-kontrolera. Licznik mikrokontrolera...
-
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...
-
Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7
PublicationPrzedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublicationPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits
PublicationW pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...
-
Testowanie serwisów i infrastruktury teleinformatycznej aktywnej sieci geodezyjnej ASG-EUPOS
PublicationWzorem państw europy zachodniej Polska przystąpiła do rozwoju własnej aktywnej sieci geodezyjnej. Projekt ASG-EUPOS, obejmujący uruchomienie 98 stacji referencyjnych globalnych systemów pozycyjnych GPS i Glonass zrealizowano w latach: 2007-2008, Na przełomie maja i czerwca 2008 roku Główny Urząd Geodezji i Kartografii wyłonił konsorcjum naukowe, ktrórego zadaniem było przeprowadzenie kompleksowych testów serwisów pozycyjnych sieci...
-
Projektowanie niskonapięciowych filtrów analogowych CMOS z kompresją przetwarzanych sygnałów
Publication -
Problemy projektowania analogowych filtrów CMOS Gm-C czasu ciągłego w strukturach trybu napięciowego i prądowego
PublicationPraca dotyczy wybranych aspektów teorii projektowania analogowych filtrów CMOS Gm-C czasu ciągłego, realizowanych w strukturach układowych, wykorzystujących zlinearyzowane wzmacniacze transkonduktancyjne (Gm) i liniowe elementy pojemnościowe (C). Zaprezentowano ogólną strukturę filtrów Gm-C wraz z opisem macierzowym. Zmodyfikowany opis macierzowy podano również dla filtrów Gm-LC, wykorzystujących dodatkowo elementy indukcyjne...
-
Environmental degradation of titanium biomaterials: mechanisms, effects, testing and evaluation
PublicationPrzedyskutowano możliwe przyczyny oraz mechanizmy degradacji biomateriałów tytanowych, używanych jako długoterminowe implanty stawów. Dokonano przeglądu wpływu impalntów metalicznych w ludzkim ciele. Przedstawiono bieżące procedury badania oraz ich wady. Zaproponowano procedurę oszacowania biomateriałów na implanty.
-
Testowanie wybranych kryteriów zabezpieczeniowych przekaźników zabezpieczeniowych SN z wykorzystaniem standardu IEC 60255
PublicationBadania oparte na standardzie IEC 60255 mają postać szeregu testów wymaganych oraz opracowanych na podstawie owego standardu. Testom zostały poddane wybrane funkcje zabezpieczeniowe zaimplementowane w testowanych przekaźnikach zabezpieczeniowych REF 615 firmy ABB. Celem było porównanie otrzymanych wartości z deklarowanymi przez producenta oraz wyznaczenie zależności w funkcji rożnych, zmiennych warunków testowych.
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublicationW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Publication..
-
A low-voltage CMOS negative impedance converter for analogue filtering applications
PublicationLow-voltage high-frequency continuous-time filters are still required in many applications and are the subject of continuing research. There are many techniques to realize integrated filters, including OTA C, Opamp RC and MOSFET-C-Opamp. The latter two show high dynamic range at low supply voltage, but their frequency operating range is usually limited to several megahertz. Transconductance filters are dedicated to higher frequencies....
-
Testing a Variety of Features for Music Mood Recognition. Testowanie zestawu parametrów w celu rozpoznawania nastroju w muzyce
PublicationMusic collections are organized in a very different way depending on a target, number of songs or a distribution method, etc. One of the high-level feature, which can be useful and intuitive for listeners, is “mood”. Even if it seems to be the easiest way to describe music for people who are non-experts, it is very difficult to find the exact correlation between physical features and perceived impressions. The paper presents experiments...
-
Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania...
-
Wykorzystanie technik testowania magistralowego układów cyfrowych i analogowych w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej
PublicationW referacie zaprezentowano metodykę nauczania oraz aspekty techniczne ćwiczeń w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej, prowadzonym dla studentów piątego roku specjalności Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Metodyka ćwiczeń oparta jest na wykorzystaniu metod symulacji komputerowej oraz praktycznych badaniach na stanowiskach...
-
A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults.
PublicationW artykule przedstawiono nowy sposób kategoryzacji uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych. Zaproponowano kryterium oparte na predykcji niestabilności indukowanej przez uszkodzenie w testowanym układzie. Przyjeto, że granicą pomiędzy uszkodzeniem miękkim i katastroficznym jest najmniejsza odchyłka parametru elementu, która sprowadza układ testowany do granicy stabilności. Wzrost wartości odchyłki poza wyznaczony margines...
-
Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation
PublicationPrzedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego...
-
Wykorzystanie analogowych filtrów aktywnych w diagnostyce łożysk silników indukcyjnych. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice. XIII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
PublicationDziedziną zainteresowań autorów referatu jest diagnostyka silników indukcyjnych a szczególnie diagnostyka przy wykorzystaniu prądu zasilającego silnik.
-
Opracowanie procedury i badania wytrzymałościowe połączeń spawanych pomiędzy rurą kwadratowa a elementami giętymi na zimno ze stali S355 oraz testowanie połączeń o grubości 4, 6, 8mm typu S355
PublicationCelem pracy było: - opracowanie procedury badania wytrzymałości połączeń spawanych rozciąganych w kierunku prostopadłym i w kierunku równoległym (ścinanych) do osi spoiny. Spoiny te łączyły elementy rur kwadratowych o różnej grubości z elementami w kształcie ceownika giętymi na zimno. - wykonanie próbek do badań wytrzymałościowych wyciętych z elementów spawanych dostarczonych przez Zakład Produkcyjny firmy Borga obciążonych prostopadle...
-
Obiektowy system do wspomagania projektowania filtrów analogowych CMOS.** 2001, 89 s., 66 rys. 17 tab. bibliogr. 103 poz. maszyn. Rozprawa doktorska (2002.02.26), Wydz. ETI, P. Gdań. Promotor:prof. dr.hab.inż. Michał Białko.
Publication.