Filtry
wszystkich: 43
wybranych: 38
-
Katalog
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MAGISTRALA MIESZANA SYGNAŁOWO
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...
-
Lokalizacja uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo metodą sygnaturową
PublikacjaPrzedstawiono metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo przeznaczoną do implementacji w testerach wbudowanych BIST wraz z algorytmem doboru jego optymalnych parametrów układowych.
-
Cyfrowa wewnątrzsamolotowa magistrala komunikacyjna ARINC 429
PublikacjaW artykule przedstawiono standard cyfrowej magistrali komunikacyjnej ARINC 429 przeznaczonej do współpracy urządzeń na pokładzie samolotów. Skupiono się na warstwie fizycznej i protokolarnej tego standardu.
-
Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych
PublikacjaZaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.
-
Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.
PublikacjaZaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą...
-
Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublikacjaW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...
-
Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję...
-
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublikacjaPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublikacjaPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
Implementacja metody diagnostycznej opartej na odpowiedzi czasowej i krzywych identyfikacyjnych w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
PublikacjaPrzedstawiono implementację nowej metody detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych układów analogowych w mieszanym sygnałowo mikrosystemie sterowanym mikrokontrolerem. Idea metody bazuje na przekształceniu transformującym zmiany odpowiedzi układu na impuls prostokątny wynikające ze zmian wartości poszczególnych elementów na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda ta nie wprowadza nadmiarowości sprzętowej...
-
Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4
PublikacjaPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...
-
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
PublikacjaPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...
-
Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo
PublikacjaOmówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
-
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...
-
Zagospodarowanie wód opadowych
PublikacjaOgólne zasady tworzenia rozwiązań alternatywnego zagospodarowania wód opadowych. Generalna klasyfikacja grup urządzeń. Formy zbiorcze, infiltracja - zbiornik retencyjny, funkcja mieszana lub rozdzielcza.
-
Kanalizacja na szczególnych obszarach
PublikacjaProblemy kanalizowania obszarów szczególnie niekorzystnych. Mieszana kanalizacja grawitacyjno - ciśnieniowa z wieloma przepompowniami. Zagrożenia na skutek cofki. Szczególne warunki przyłączenia, Zabezpieczenia przepompowni. Klasyfikacja.
-
Problem wyboru zbiornika retencyjnego
PublikacjaProblemy związane z optymalnym doborem zbiornika retencyjnego. Zapotrzebowanie na ograniczenie wielkości spływów. Optymalizacja lokalizacji. Funkcja retencji oraz mieszana retencyjno - rozsączająca. Próby wymuszeń. Główne zagrożenia. Warunki posadowienia. Specyfika zbiornika rurowego. Dokumentacja przedprojektowa i projektowa.
-
Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7
PublikacjaPrzedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...
-
Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.
PublikacjaPrzedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Stanowisko do badania czujników temperatury w laboratorium metrologii przemysłowej
PublikacjaW Laboratorium Miernictwa Przemysłowego powstało stanowisko dydaktyczno-badawcze do badania czujników temperatury, wykorzystujące mierniki N12T firmy Lumel oraz szereg termoelektrycznych i rezystancyjnych czujników temperatury. Mierniki N12T można zdalnie programować jak również odbierać dane przez nie zarejestrowane. Do zdalnej transmisji wy-korzystywana jest magistrala szeregowa RS485 z użyciem protokołu MODBUS. Zastosowanie...
-
An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop.
PublikacjaPrzedstawiono oscylacyjny tester wbudowany (OBIT) do testowania części analogowej elektronicznego układu mieszanego sygnałowo zmontowanego na pakiecie. W celu zwiększenia współczynnika pokrycia uszkodzeń, w testerze zastosowano pomiary w dziedzinie czasu i częstotliwości. Omówiono wybrane aspekty implementacji testera, w szczególności problem transformacji układu testowanego w oscylator. Przeprowadzono analizę stanu ustalonego...
-
A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems
PublikacjaPrzedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...
-
Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems
PublikacjaArtykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...
-
Teoretyczne i praktyczne aspekty zastosowania modulatora sigma-delta w testerze wbudowanym BIST
PublikacjaPrzedstawiono teoretyczne i praktyczne aspekty zastosowania modulatora sigma-delta w testerze wbudowanym BIST, przeznaczonym do diagnostyki mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych. Omówiono podstawowe parametry modulatorów. Przeprowadzono dyskusję możliwych wariantów wyboru rodzaju, parametrów, architektury oraz technologii wykonania modulatora sigma-delta. Opracowano behawioralny model modulatora drugiego rzędu o własciwościach...
-
Implementacja zmodyfikowanej metody biliniowej 2D w elektronicznym systemie wbudowanym
PublikacjaPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody biliniowej 2D diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda cechuje się prostym algorytmem diagnostycznym, który z powodzeniem można zaimplementować w 8-bitowych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI, oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody...
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublikacjaPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
-
A fault diagnosis method for analog parts of embedded systems based on time response and identification curves in the 3-D space
PublikacjaPrzedstawiono nową wersję 3-D nowej metody diagnostycznej części analogowych w mieszanych sygnałowo systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Bazuje ona na krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni 3-D i pomiarze próbek napięcia odpowiedzi układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym. Zalety metody: pomiary są wykonywane wyłącznie za pomocą urządzeń peryferyjnych popularnych mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna...
-
Pokój do szukania siebie, instalacja na XVII Przeglądzie Sztuki Survival 2019
PublikacjaPokój do szukania siebie, 2019 instalacja performatywna (performance, fotografia, wideo, malarstwo, rysunek, tekst, działanie przestrzenne), technika mieszana, wymiary zmienne, W trakcie formułowania opisu mojego działania zdążyłem napisać pięć innych tekstów o różnych dotyczących mnie sprawach, a główną treść mojej wypowiedzi podważyć kilkakrotnie. Dziwnie pisze się tekst o czymś, co służyć ma szukaniu siebie, jednocześnie w...
-
A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...
-
Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses
PublikacjaW artykule przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym zbiór próbek odpowiedzi czasowej układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym na rodzinę krzywych identyfikacyjnych umieszczonych w przestrzeni...
-
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
PublikacjaPrzedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...
-
Wykorzystanie technik testowania magistralowego układów cyfrowych i analogowych w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej
PublikacjaW referacie zaprezentowano metodykę nauczania oraz aspekty techniczne ćwiczeń w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej, prowadzonym dla studentów piątego roku specjalności Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Metodyka ćwiczeń oparta jest na wykorzystaniu metod symulacji komputerowej oraz praktycznych badaniach na stanowiskach...
-
Measurements of passive components using of an IEEE 1149.4 mixed-signal test bus
PublikacjaW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych typu STA400. Zaprezentowano metody pomiaru rezystancji pojedynczych elementów z wykorzystaniem źródła prądowego oraz źródła VH znajdującego się w analogowych modułach ABM układu STA400. Pokazano...
-
Projekt i budowa uniwersalnego sterownika programowalnego
PublikacjaArtykuł opisuje projekt i realizację niskobudżetowego ale zarazem funkcjonalnego i uniwersalnego kompaktowego sterownika programowalnego PLC (ang. Programmable Logic Controller) oraz dedykowanej aplikacji narzędziowej umożliwiającej jego elastyczne oprogramowanie. Przedstawiany sterownik bazuje na jednostce centralnej w postaci 32-bitowego mikrokontrolera ARM firmy STMicroelectronics oraz wyposażony jest w standardowe peryferia...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublikacjaPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.
PublikacjaZaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację...
-
Leakage detection and localisation in drinking water distributionnetworks by MultiRegional PCA
PublikacjaMonitoring is one of the most important steps in advanced control of complex dynamic systems. Precise information about systems behaviour, including faults indicating, enables for efficient control. The paper describes an approach to detection and localisation of pipe leakage in Drinking Water Distribution Systems (DWDS) representing complex and distributed dynamic system of large scale. Proposed MultiRegional Principal Component...