Wyniki wyszukiwania dla: TESTOWANIE UKŁADÓW ANALOGOWYCH - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: TESTOWANIE UKŁADÓW ANALOGOWYCH

wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc

Wyniki wyszukiwania dla: TESTOWANIE UKŁADÓW ANALOGOWYCH

  • Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

    Publikacja

    - Rok 2005

    Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...

  • Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

    Publikacja

    - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2007

    Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...

  • Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

    Publikacja

    - Rok 2009

    Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...

  • Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2011

    Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo

    Publikacja

    - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2002

    Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.

  • System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

    Publikacja

    - Rok 2005

    Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...

  • Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej

    Publikacja

    - Rok 2007

    Na tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...

  • Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4

    Publikacja

    - Pomiary Automatyka Robotyka - Rok 2002

    W pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...

  • Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych

    Publikacja

    - Rok 2005

    Przedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....

  • Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych

    Publikacja

    - Rok 2003

    Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...

  • Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.

    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...

  • Wykorzystanie technik testowania magistralowego układów cyfrowych i analogowych w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej

    Publikacja

    - Rok 2005

    W referacie zaprezentowano metodykę nauczania oraz aspekty techniczne ćwiczeń w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej, prowadzonym dla studentów piątego roku specjalności Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Metodyka ćwiczeń oparta jest na wykorzystaniu metod symulacji komputerowej oraz praktycznych badaniach na stanowiskach...

  • Wykład prof. Janusza Rajskiego pt. Testowanie układów VLSI

    Wydarzenia

    09-10-2017 13:15 - 09-10-2017 14:30

    Wykład pt. „Testowanie układów VLSI” wygłosi prof. dr hab. inż. Janusz Rajski Mentor, a Siemens Business (USA).

  • Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits

    Publikacja

    - Rok 2007

    W pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...

  • Zespół Systemów Mikroelektronicznych

    Zespoły Badawcze

    * projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...

  • Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych.

    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedmiotem pracy jest detekcja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych o architekturze w pełni różnicowej, cechującej się strukturalną redundancją ułatwiającą testowanie i diagnostykę. W oparciu o model matematyczny układów w pełni różnicowych, usystematyzowano metody ich testowania. Wykazano, że dotychczas stosowane metody są kosztowne w odniesieniu do układów ze wzmacniaczami operacyjnymi, w których zastosowano sprzężenie...

  • Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2006

    Przedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...

  • Stanisław Szczepański prof. dr hab. inż.

    Osoby

    Katedra Systemów Mikroelektronicznych

  • Bogdan Pankiewicz dr hab. inż.

    Osoby

    Katedra Systemów Mikroelektronicznych

    Bogdan Pankiewicz ukończył w 1993 r. Wydział Elektroniki Politechniki Gdańskiej, specjalność układy elektroniczne a w 2002 r. uzyskał stopień doktora w dziedzinie elektroniki na Wydziale ETI, PG. Od początku kariery jest związany z Politechniką Gdańską: najpierw jako asystent (lata 1994–2002), a następnie jako adiunkt (od 2002 r.) na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki. Zajmuje się projektowaniem analogowych i cyfrowych...

  • Wojciech Toczek dr hab. inż.

    Osoby

  • Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2022/2023

    Kursy Online
    • Z. Czaja
    • G. Lentka
    • J. Smulko
    • A. Kwiatkowski
    • M. Kowalewski

    {mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...

  • Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2023/2024

    Kursy Online
    • Z. Czaja
    • G. Lentka
    • J. Smulko
    • A. Kwiatkowski
    • M. Kowalewski

    {mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...

  • Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2024/2025

    Kursy Online
    • Z. Czaja
    • G. Lentka
    • A. Kwiatkowski
    • B. Stawarz-Graczyk
    • M. Kowalewski

    {mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...

  • Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych

    Publikacja

    - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2011

    W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...

  • System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych

    Publikacja

    - Rok 2005

    Przedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...

  • Technika sygnałów analogowych. - Tom 1,2

    Publikacja

    - Rok 2014

    om I składa się z sześciu rozdziałów. W rozdziale 1 scharakteryzowano sygnały, elementy, układy i systemy analogowe. Poznanie właściwości elementów ma kluczowe znaczenie przy przewidywaniu właściwości zbudowanych z nich układów elektronicznych. Podobnie znajomość podstawowych praw rządzących rozkładami prądów i napięć ma zasadnicze znaczenie dla zrozumienia metod analizy układów elektronicznych. Rozdział 2 jest poświęcony liniowym...

  • Złote monety bulionowe – testowanie pasywnego charakteru inwestycji

    Publikacja

    - Finanse, Rynki Finansowe, Ubezpieczenia - Rok 2016

    Cel – Wyznaczenie składu optymalnego portfela inwestycyjnego o minimalnym ryzyku, zawierającego inwestycję w polskie monety bulionowe (Orzeł Bielik) oraz inwestycję na polskiej giełdzie papierów wartościowych. Testowanie pasywnego charakteru inwestycji w monety. Metodologia badania – Konstrukcja portfeli inwestycyjnych o minimalnym ryzyku według teorii H.M. Markowitza. Autorska metoda badania pasywnego charakteru inwestycji...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Testowanie koncepcji nowych produktów w niemieckich przedsiębiorstwach sprzętu gospodarstwa domowego

    Publikacja

    - Rok 2006

    W artykule przedstawiono wyniki badania, odnośnie stosowania testowania koncepcji nowych produktów, przez niemieckich producentów sprzetu gospodarstwa domowego. Stwierdzono, że większość badanych firm stosuje testowanie koncepcji oraz, że występuje pozytywny związek pomiędzy stosowaniem tej metody a wynikami osiąganymi przy wdrażaniu nowych produktów.

  • Testowanie w przyrostowym i ewolucyjnym cyklu życia oprogramowania

    Publikacja

    - Rok 2010

    Artykuł prezentuje doświadczenia dotyczące procesu testowania złożonego systemu internetowego rozwijanego w okresie ostatnich pięciu lat. System ten powstaje w cyklu przyrostowym i ewolucyjnym, przechodząc do kolejnych wydań. Rozróżniono wydania główne, które są poprzedzane pełnym zakresem testów regresji oraz wydania rozszerzające, gdzie zakres testowania jest zawężony. Wyjaśniono miejsce procesu testowania w kontekście zarządzania...

  • Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym

    Publikacja

    - Rok 2011

    W referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...

  • Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

    Publikacja

    - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2008

    Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...

  • Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych

    Publikacja

    - Rok 2012

    W pracy przedstawiono budowę warystorów, z uwzględnieniem procesów zachodzących w ich strukturach i prowadzących do zmiany ich parametrów elektrycznych oraz wybrane sposoby testowania ich jakości.

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych

    Publikacja

    - Rok 2009

    Warystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...

  • Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych

    Publikacja

    - elektro.info - Rok 2009

    Warystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.

    Publikacja

    - Rok 2003

    Przedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.

  • Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

    Publikacja

    - Diagnostyka - Rok 2008

    Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2014

    Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.

    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...

  • Testowanie koncepcji nowych produktów metodą ankietową.

    Publikacja

    - Rok 2004

    Celem pracy jest przedstawienie istoty i roli testowania koncepcji nowego produktu przy użyciu metody ankietowej. Szczególną uwagę zwrócono na sposób konstrukcji kwestionariusza w tak przeprowadzanym teście koncepcji.

  • A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.

    Publikacja

    - MEASUREMENT - Rok 2006

    Przedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.

    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...

  • Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2007

    W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Testowanie oprogramowania systemów krytycznych - zima'22

    Kursy Online
    • A. Kaczmarek
    • B. Wiszniewski

    xxx

  • Testowanie oprogramowania systemów krytycznych - zima'24

    Kursy Online
    • A. Kaczmarek
    • B. Wiszniewski

  • System wspierający testowanie platform telekomunikacyjnych czasu rzeczywistego

    Publikacja

    - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2008

    Publikacja ma na celu omówienie systemu, jaki został stworzony z myślą o testowaniu platform telekomunikacyjnych czasu rzeczywistego. System został zrealizowany jako na narzędzie, które jest w stanie w pełni automatycznie wykonywać testy oraz analizować ich wyniki, bez konieczności nadzorowania procesu egzekucji testów. Dokument zawiera opis struktury systemu, opartej na koncepcji agentów softwareowych, która pozwoliła na pełną...

  • Sieciowy system komputerowy wspomagający testowanie wiedzy uczniów

    Publikacja

    - Rok 2003

    W referacie przedstawiono organizację sieciowego systemu komputerowego wspomagającego tworzenie i przeprowadzanie testów. Omówiono przypadki użycia systemu z punktu widzenia administratora sieci, nauczyciela i ucznia, a także przypadki wspólne dla wszystkich użytkowników systemu. Podano opis interfejsu dla poszczególnych grup użytkowników.

  • Podnoszenie sprawności układów turboparowych.

    Publikacja

    - Rok 2002

    Przedstawiono podstawowe zależności dla układów turboparowych w ujęciu klasycznym oraz przedstawiono propozycje zmian struktur obiegów pozwalających na podniesienie ich sprawności.

  • Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikato-rach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2014

    Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzysta-niem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera....

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych syste-mów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2013

    Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikro-kontrolera. Licznik mikrokontrolera...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Badanie stabilności uogólnionych liniowych układów dynamicznych

    Publikacja
    • M. Regulińska

    - Rok 2009

    teoria stabilności zajmuje się jakościową analizą układów dynamicznych. do badania stabilności uogólnionych układów dynamicznych wykorzystuje się uogólnione wielomiany wykładnicze, które wykorzystywane są w metodzie wyznaczania odpowiedzi układów dynamicznych. takie ujęcie problemu stabilności pozwala badać stabilnoś szerokiej klasy układów dynamicznych w sposób jednolity, np. dla klasycznych układów dynamicznych ciągłych i dyskretnych...