Wyniki wyszukiwania dla: TESTOWANIE UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

• Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.

  Publikacja

  • A. Adamczyk
  • M. Wierzbicki

  - Rok 2003

  Przedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.

• Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...

• Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2007

  Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...

• Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą

  Publikacja

  • M. Borkowska
  • M. Gonera
  • J. Kern

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2002

  Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...

• Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2011

  Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2008

  Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...

• Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Diagnostyka - Rok 2008

  Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...

• Zastosowanie hybrydowych systemów ekspertowych do wspomagania projektowania układów elektronicznych.

  Publikacja

  • M. Kłosowski

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2003

  W pracy przedstawiono koncepcję i praktyczną realizację obiektowo zorientowanego hybrydowego systemu ekspertowego sterowanego regułami, współpracującego ze sztuczną siecią neuronową, systemem klasyfikatorów genetycznych i systemem z rozumowaniem sytuacyjnym. Jest to system hybrydowy i może być efektywnie wykorzystany do budowy złożonych systemów ekspertowych.

• Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2010

  Przedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę...

• Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej

  Publikacja

  • R. Zielonko
  • M. Kowalewski

  - Rok 2007

  Na tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...

• Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  Przedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....

• Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2004

  Przedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...

• Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2004

  Przedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...

• Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2010

  W pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...

• Wykład prof. Janusza Rajskiego pt. Testowanie układów VLSI

  Wydarzenia

  09-10-2017 13:15 - 09-10-2017 14:30

  Wykład pt. „Testowanie układów VLSI” wygłosi prof. dr hab. inż. Janusz Rajski Mentor, a Siemens Business (USA).

• Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2007

  W pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...

• Projektowanie układów elektronicznych - 2022

  Kursy Online

  • P. Wierzba

  EiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7

• Projektowanie układów elektronicznych - 2023

  Kursy Online

  • R. Bogdanowicz
  • P. Wierzba
  • A. Mazikowski
  • K. Karpienko

  EiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7

• Projektowanie układów elektronicznych - edycja 24/25

  Kursy Online

  • P. Wierzba

• Zespół Metrologii i Optoelektroniki

  Zespoły Badawcze

  • Katedra Metrologii i Optoelektroniki

  * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

• Zespół Systemów Mikroelektronicznych

  Zespoły Badawcze

  • Katedra Systemów Mikroelektronicznych

  * projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...

• Stanisław Szczepański prof. dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Systemów Mikroelektronicznych

• Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...

• Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2004

  Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...

• Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1

  Publikacja

  • K. Arentowicz
  • B. Bartosiński

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2006

  Przedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...

• Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych.

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2004

  Przedmiotem pracy jest detekcja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych o architekturze w pełni różnicowej, cechującej się strukturalną redundancją ułatwiającą testowanie i diagnostykę. W oparciu o model matematyczny układów w pełni różnicowych, usystematyzowano metody ich testowania. Wykazano, że dotychczas stosowane metody są kosztowne w odniesieniu do układów ze wzmacniaczami operacyjnymi, w których zastosowano sprzężenie...

• Andrzej Czyżewski prof. dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Systemów Multimedialnych

  Prof. zw. dr hab. inż. Andrzej Czyżewski jest absolwentem Wydziału Elektroniki PG (studia magisterskie ukończył w 1982 r.). Pracę doktorską na temat związany z dźwiękiem cyfrowym obronił z wyróżnieniem na Wydziale Elektroniki PG w roku 1987. W 1992 r. przedstawił rozprawę habilitacyjną pt.: „Cyfrowe operacje na sygnałach fonicznych”. Jego kolokwium habilitacyjne zostało przyjęte jednomyślnie w czerwcu 1992 r. w Akademii Górniczo-Hutniczej...

• Ewa Hermanowicz prof. dr hab. inż.

  Osoby

• Schematiclab.com – A web tool for the design and analysis of electrical circuits

  Publikacja

  • Z. Kowalczuk
  • J. Wszołek
  • A. Cichosz

  - Rok 2015

  In this paper a useful Internet application for designing electronic systems is considered. A practical process of prototyping electronic devices by using such a dedicated web tool, hereinafter referred to as SchematicLab, is described. This solution, still in constant development, is now ready for use.

• Schematiclab.com – A web tool for the design and analysis of electrical circuits

  Publikacja

  • Z. Kowalczuk
  • J. Wszołek
  • A. Cichosz

  - Rok 2015

  Along with a general progress in the modern computational tools, dynamic development of Internet applications using the cloud methodology and solutions is now observed. Clearly, also the applications installed locally, and being commonly used previously, are gradually gaining their counterparts in computational network clouds. The clouds have also brought new service sales opportunities. Namely, the service sales model based on...

• System pomiarowy spektroskopii impedancyjnej do diagnostyki obiektów technicznych

  Publikacja

  • J. Hoja
  • G. Lentka

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2011

  W artykule przedstawiono system pomiarowy ukierunkowany na testowanie i diagnostykę obiektów elektronicznych i nieelektrycznych. Charakterystyczną cechą systemu jest wyposażenie w bibliotekę metod spektroskopii impedancyjnej umożliwiających identyfikację elementów niedostępnych zaciskowo. Omówiono architekturę systemu, podstawy teoretyczne metod wyznaczania widma impedancji oraz przedstawiono wyniki weryfikacji praktycznej metod...

• Krzysztof Karwowski dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Inżynierii Elektrycznej Transportu

• A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits

  Publikacja

  • W. Toczek
  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  W artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymalnych częstotliwosci pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych,...

• Wojciech Toczek dr hab. inż.

  Osoby

• Chemometria z lotu ptaka

  Publikacja

  • J. Mazerski

  - Rok 2009

  Rozwój technik pomiarowych i komputeryzacja przyrządów pomiarowych doprowadziły do ogromnego wzrostu ilości gromadzonych danych pomiarowych. We wszystkich sferach działalności badawczej zbierane są dane, które - nie poddane odpowiedniej analizie - jawią się jako niewiele mówiący chaos zalegający w elektronicznych nosnikach pamięci.Jednocześnie z tym procesem trwa rozwój metod analizy danych i wydobywania z nich użytecznej informacji....

• Serwery obróbki dokumentów elektronicznych.

  Publikacja

  • P. Kamiński

  - Rok 2002

  Przedstawiono podstawowe funkcje systemu zarządzania dokumentami (serwera dokumentów). Omówiono sposoby pozyskiwania, przetwarzania i składowania dokumentów. Zwrócono uwagę na metody wydobywania informacji z dokumentów elektronicznych oraz standardy ich zapisu.

• Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych

  Laboratoria

  • Centrum Zaawansowanych Technologii

  Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych powstało w ramach realizacji projektu CZT Centrum Zaawansowanych Technologii POMORZE i mieści się w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Laboratorium zostało wyposażone w specjalistyczne zaplecze aparaturowe, które w połączeniu z kompetencjami naukowymi i technologicznymi kadry pozwala na...

• Złote monety bulionowe – testowanie pasywnego charakteru inwestycji

  Publikacja

  • M. Potrykus

  - Finanse, Rynki Finansowe, Ubezpieczenia - Rok 2016

  Cel – Wyznaczenie składu optymalnego portfela inwestycyjnego o minimalnym ryzyku, zawierającego inwestycję w polskie monety bulionowe (Orzeł Bielik) oraz inwestycję na polskiej giełdzie papierów wartościowych. Testowanie pasywnego charakteru inwestycji w monety. Metodologia badania – Konstrukcja portfeli inwestycyjnych o minimalnym ryzyku według teorii H.M. Markowitza. Autorska metoda badania pasywnego charakteru inwestycji...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Testowanie koncepcji nowych produktów w niemieckich przedsiębiorstwach sprzętu gospodarstwa domowego

  Publikacja

  • D. Dąbrowski

  - Rok 2006

  W artykule przedstawiono wyniki badania, odnośnie stosowania testowania koncepcji nowych produktów, przez niemieckich producentów sprzetu gospodarstwa domowego. Stwierdzono, że większość badanych firm stosuje testowanie koncepcji oraz, że występuje pozytywny związek pomiędzy stosowaniem tej metody a wynikami osiąganymi przy wdrażaniu nowych produktów.

• Testowanie w przyrostowym i ewolucyjnym cyklu życia oprogramowania

  Publikacja

  • J. Górski
  • M. Witkowicz

  - Rok 2010

  Artykuł prezentuje doświadczenia dotyczące procesu testowania złożonego systemu internetowego rozwijanego w okresie ostatnich pięciu lat. System ten powstaje w cyklu przyrostowym i ewolucyjnym, przechodząc do kolejnych wydań. Rozróżniono wydania główne, które są poprzedzane pełnym zakresem testów regresji oraz wydania rozszerzające, gdzie zakres testowania jest zawężony. Wyjaśniono miejsce procesu testowania w kontekście zarządzania...

• ZASTOSOWANIE ZOBRAZOWANIA TERMOGRAFICZNEGO W BADANIACH URZĄDZEŃ ELEKTRONICZNYCH

  Publikacja

  • S. Galla

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Rok 2013

  W artykule przedstawiono możliwości diagnostyki termowizyjnej w ocenie konstrukcji urządzeń elektronicznych. Zwrócono uwagę na zalety i ograniczenia w stosowaniu termowizji jako narzędzia diagnostycznego przy badaniu złożonych urządzeń elektronicznych. Przedstawiono przykłady zastosowania zobrazowania termograficznego umożliwiającego w ograniczonym czasie szybką i bezpośrednią ocenę zastosowanych rozwiązań technicznych oraz jakości...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Janusz Rachoń prof. dr hab. inż.

  Osoby

  Biuro Praw,Wartości Akademickich i Równego Traktowania

  Sprawował urząd rektora w latach 2002-2008 Urodził się 11 sierpnia 1946 r. w Nowym Sączu. Studia wyższe ukończył w 1969 r. na Wydziale Chemicznym Politechniki Gdańskiej, uzyskując tytuł magistra inżyniera chemika. W 1969 r. rozpoczął pracę na Wydziale Chemicznym Politechniki Gdańskiej, na którym uzyskał w 1975 r. doktorat, a w 1985 r. habilitację. Na stanowisko docenta został powołany w 1989 r., na stanowisko profesora nadzwyczajnego...

• Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych

  Publikacja

  • J. Smulko

  - Rok 2009

  Warystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...

• Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych

  Publikacja

  • J. Smulko

  - elektro.info - Rok 2009

  Warystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych

  Publikacja

  • J. Smulko

  - Rok 2012

  W pracy przedstawiono budowę warystorów, z uwzględnieniem procesów zachodzących w ich strukturach i prowadzących do zmiany ich parametrów elektrycznych oraz wybrane sposoby testowania ich jakości.

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Klasyfikacja wyrobów tytoniowych z wykorzystaniem elektronicznych nosów

  Publikacja

  • T. Majchrzak
  • S. Żaczek
  • T. Dymerski
  • J. Namieśnik

  - Analityka: Nauka i Praktyka - Rok 2017

  Zapobieganie nielegalnej dystrybucji wyrobów tytoniowych w Polsce stanowi poważny problem. Wyroby tytoniowe przemycane do Polski mogą charakteryzować się niższą jakością, wynikającą z wykorzystania surowców gorszego gatunku. Jednym z rozwiązań zmniejszających skalę tego problemu mogą być działania ograniczające przemyt przez granice państwa. Autorzy pracy uważają, że wykorzystanie elektronicznych nosów do rutynowych kontroli przewożonych...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.

  Publikacja

  • A. Konczakowska

  - Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki - Rok 2002

  We wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...

• Prawo Mediów Elektronicznych

  Czasopisma

  ISSN: 2082-100X