Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 337
-
Katalog
- Publikacje 195 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 2 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 25 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 7 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 1 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 4 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 6 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 3 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 88 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 6 wyników po odfiltrowaniu
Wyniki wyszukiwania dla: chlodzenie elementow elektronicznych
-
Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.
PublikacjaPrzedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.
-
Serwery obróbki dokumentów elektronicznych.
PublikacjaPrzedstawiono podstawowe funkcje systemu zarządzania dokumentami (serwera dokumentów). Omówiono sposoby pozyskiwania, przetwarzania i składowania dokumentów. Zwrócono uwagę na metody wydobywania informacji z dokumentów elektronicznych oraz standardy ich zapisu.
-
Stanisław Szczepański prof. dr hab. inż.
Osoby -
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublikacjaWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
ZASTOSOWANIE ZOBRAZOWANIA TERMOGRAFICZNEGO W BADANIACH URZĄDZEŃ ELEKTRONICZNYCH
PublikacjaW artykule przedstawiono możliwości diagnostyki termowizyjnej w ocenie konstrukcji urządzeń elektronicznych. Zwrócono uwagę na zalety i ograniczenia w stosowaniu termowizji jako narzędzia diagnostycznego przy badaniu złożonych urządzeń elektronicznych. Przedstawiono przykłady zastosowania zobrazowania termograficznego umożliwiającego w ograniczonym czasie szybką i bezpośrednią ocenę zastosowanych rozwiązań technicznych oraz jakości...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublikacjaPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Klasyfikacja wyrobów tytoniowych z wykorzystaniem elektronicznych nosów
PublikacjaZapobieganie nielegalnej dystrybucji wyrobów tytoniowych w Polsce stanowi poważny problem. Wyroby tytoniowe przemycane do Polski mogą charakteryzować się niższą jakością, wynikającą z wykorzystania surowców gorszego gatunku. Jednym z rozwiązań zmniejszających skalę tego problemu mogą być działania ograniczające przemyt przez granice państwa. Autorzy pracy uważają, że wykorzystanie elektronicznych nosów do rutynowych kontroli przewożonych...
-
Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.
PublikacjaWe wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...
-
Prawo Mediów Elektronicznych
Czasopisma -
Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych
Kursy OnlineKurs zawiera materiały do wykładu (slajdy oraz materiały wideo) i laboratorium (instrukcje) z przedmiotu Bloki funkcjonalne Systemów Elektronicznych.
-
Certyfikacja wyrobów elektronicznych
PublikacjaDziałania jednostki certyfikującej wyroby mają na celu zapewnienie zaufania użytkownika do jakości wyrobu. Uzyskanie certyfikatu bezpieczeństwa dla wyrobu podlegającego temu obowiązkowi decyduje o wprowadzeniu go na rynek. W przypadku certyfikacji dobrowolnej, uzyskanie certyfikatu służy promocji wyrobu. Aktualnie wprowadzony jest w Polsce system oceny wyrobów obowiązujący w Unii Europejskiej (UE), oparty na dyrektywach nowego...
-
Zastosowanie termografii w diagnostyce i badaniach urządzeń elektronicznych
PublikacjaZaproponowano zastosowanie techniki termowizyjnej do oceny poprawność konstrukcji i działania urządzeń elektronicznych, biorąc pod uwagę krótki czas badań oraz możliwość bezpośredniej oceny uzyskanych wyników. Technikę termowizyjną zastosowano do badania elementów ochronnych zasilacza AC/DC w czasie standardowych badań odporności na udary oraz do badania modułów GSM pracujących pod kontrolą nadrzędnego programu sterującego i płyty...
-
Impregnation vibro-pressed concrete pavement bricks.
PublikacjaW materiałach przedstawiono wyniki badań uzyskanych podczas prób impregnacji wibroprasowanych elementów betonowych. Celem badań było określenie odpowiedniego składu kompozycji impregnacyjnej, aby uzyskać najlepszy efekt zabezpieczenia powierzchni betonu przed wnikaniem cieczy organicznych np. oleju mineralnego.
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublikacjaPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...
-
Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących
PublikacjaPrzedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę...
-
Opinia o nowej technologii - Technologia płatności elektronicznych z wykorzystaniem osobistych terminali płatników
PublikacjaEkspertyza dotycząca oceny opracowania technologii płatności elektronicznych z wykorzystaniem osobistych terminali płatników
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
PublikacjaRozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...
-
System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych
PublikacjaPrzedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...
-
Cooling of electronic equipment by means of jets and microjets
PublikacjaW pracy przedstawiono rozwiązanie sprzężonej wymiany ciepła od uderzającej strugi cieczy oraz przewodzenia ciepła w łytce. Uzyskano proste zależności opisujące rozkład temperatur na płytce. Umożliwia to przeprowadzenie analizy wpływu różnych parametró na wymianę ciepła podczas chłodzenia urządzeń elektronicznych generujących ciepło.
-
Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych 23/24
Kursy OnlineKurs zawiera materiały do wykładu (slajdy) i laboratorium (instrukcje) z przedmiotu Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych.
-
Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych 24/25
Kursy OnlineKurs zawiera materiały do wykładu (slajdy) i laboratorium (instrukcje) z przedmiotu Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych.
-
Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych 22/23
Kursy OnlineKurs zawiera materiały do wykładu (slajdy oraz materiały wideo) i laboratorium (instrukcje) z przedmiotu Bloki Funkcjonalne Systemów Elektronicznych.
-
Oprogramowanie systemów elektronicznych - projekt 2022/23
Kursy OnlineZajęcia projektowe z przedmiotu "Oprogramowanie systemów elektronicznych" dla 2 semestru studiów II stopnia, podstawowe dla KSE, uzupełniające dla OPTO, obieralne dla reszty specjalności.
-
Oprogramowanie Systemów Elektronicznych - projekt 2024/25
Kursy OnlineZajęcia projektowe z przedmiotu "Oprogramowanie systemów elektronicznych" dla 2 semestru studiów II stopnia, podstawowe dla KSE, uzupełniające dla OPTO, obieralne dla reszty specjalności.
-
Oprogramowanie systemów elektronicznych - projekt 2023/24
Kursy OnlineZajęcia projektowe z przedmiotu "Oprogramowanie systemów elektronicznych" dla 2 semestru studiów II stopnia, podstawowe dla KSE, uzupełniające dla OPTO, obieralne dla reszty specjalności.
-
Koncepcje zarzadzania realizacją przedsięwzięć elektronicznych
PublikacjaPrzedstawiono główne koncepcje zarządzania realizacją przedsięwzięć w środowisku usług internetowych. Zaprezentowano podstawowe wzorcowe rozwiązania z uwzględnieniem trzech poziomów zarządzania (strategiczny, procesowy, fizyczny). Scharakteryzowano wykorzystywane zasoby (dane, usługi, sieć, uzytkownicy) oraz zasygnalizowano główne problemy zwiazane z zarządzaniem tymi zasobami, przy uwzględnieniu wymagań jakościowych i wykorzystywanej...
-
Zastosowanie grafenu w czujnikach elektronicznych
PublikacjaGrafen to dwuwymiarowa struktura złożona z atomów węgla, tworzących cienką warstwę, która swoją budową przypomina plaster miodu. Materiał ten wykazuje wiele wyjątkowych właściwości, takich jak: bardzo duże przewodnictwo elektryczne i cieplne, ogromna wytrzymałość mechaniczna i elastyczność, a także duży stosunek powierzchni do objętości. Grafen jest przezroczysty, ale może efektywnie absorbować ok. 2% światła w szerokim zakresie...
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublikacjaNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...
-
Możliwości redukcji przebiegowego zużycia paliwa przy zastosowaniu elektronicznych systemów wspomagających kierowców
PublikacjaElektroniczne systemy wspomagające kierowcę pomagają kierującym kontrolować sytuację na drodze, przekazują sygnały do układu hamulcowego i napędowego, rozpoznają znaki drogowe, pozwalają utrzymać odpowiedni dystans w czasie jazdy w kolumnie, a także kontrolują położenie pojazdu na pasie ruchu. Elek-troniczne systemy wspomagające kierowcę pomagają również zmniejszyć przebiegowe zużycie paliwa, poprzez odpowiednie sterowanie układem...
-
Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
PublikacjaPrzedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji...
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublikacjaW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Opis struktury i transformacji dokumentów elektronicznych
PublikacjaPrzedstawiono zasady tworzenia dokumentów XML. Omówiono w oparciu o przykłady strukturę wyrażeń XPath oraz niektóre elementy transformacji XSLT.
-
Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych
PublikacjaPrzedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...
-
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...
-
Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych syste-mów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
PublikacjaPrzedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikro-kontrolera. Licznik mikrokontrolera...
-
Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
PublikacjaPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania...
-
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublikacjaPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
Kwartalnik Naukowy Prawo mediów elektronicznych
Czasopisma -
Rozpoznawanie elementów elektronicznych w obudowach SOT-23
PublikacjaProdukowane obecnie elementy elektroniczne do montażu powierzchniowego (SMD) mają tak małe obudowy, że producenci nie są w stanie umieszczać na nich dostatecznej ilości oznaczeń umożliwiających ich jednoznaczną identyfikację. Ponadto, podobnie jak w przypadku elementów do montażu przewlekanego, w obudowie jednego typu mogą być zamknięte różne rodzaje elementów. Przykładem takiej obudowy jest obudowa SOT-23 (Small Outline Transistor)....
-
Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrole-rami
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbu-dowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpo-wiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda...
-
Programowanie systemów elektronicznych (2023)
Kursy Online -
Programowanie systemów elektronicznych (2022)
Kursy Online -
Projektowanie układów elektronicznych - 2022
Kursy OnlineEiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7
-
Projektowanie układów elektronicznych - 2023
Kursy OnlineEiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7
-
Zastosowanie elektronicznych zmysłów w analizie żywności - cz. 1
PublikacjaW dzisiejszych czasach konsumenci zwracają dużą uwagę na takie cechy żywności jak: zapach, smak i wygląd. Ze względu na to naukowcy od wielu lat podejmują próby naśladowania ludzkich narządów zmysłów za pomocą urządzeń określanych jako elektroniczne zmysły. Zaliczamy do nich elektroniczny nos i język oraz komputerowy system rozróżnienia barw i kształtów. Elektroniczny nos jest najbardziej rozwiniętym i najczęściej stosowanym sztucznym...
-
Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych
PublikacjaZaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.
-
Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym
PublikacjaW pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...