Search
Filters
total: 271
filtered: 189
Search results for: SZUMY ELEMENTÓW I UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH
-
Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.
PublicationWe wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...
-
Metody zwiększenia czułości dwukanałowego systemu pomiaru szumów.
PublicationZnajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.
-
Pomiary szumów i zakłóceń
PublicationPraca zawiera uzasadnienie potrzeby doskonalenia techniki pomiarów szumów i zakłóceń, zwłaszcza sygnałów losowych - zarówno ergodycznych jak i niestacjonarnych, z wykorzystaniem sprzętu komputerowego. Przedstawione zostały uwarunkowania aparaturowe mające zasadniczy wpływ na algorytmiczne wyznaczanie wielkości charakteryzujących szumy i zakłócenia po procesie ich digitalizacji. Podane zostały także przykładowe zastosowania wspomaganych...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublicationWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublicationPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublicationPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...
-
Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących
PublicationPrzedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę...
-
Dithering strategy applied to tinnitus masking.
PublicationW referacie przedstawiono teorię wyjaśniającą zjawisko szumów usznych na gruncie akustyki, elektroniki i telekomunikacji. Spostrzeżenie, że słuch jest w istocie akustycznym układem transmisyjnym, skłania do poszukiwania interpretacji powstawania szumów usznych w ogólnej teorii spontanicznego generowania szumu w układach transmisyjnych. Sformułowana hipoteza wskazuje na istnienie pasożytniczej kwantyzacji, która pojawia się w sytuacji...
-
Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.
PublicationPrzedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublicationNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
PublicationRozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublicationPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...
-
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.
PublicationPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...
-
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.
PublicationPrzedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...
-
Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublicationW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym
PublicationW pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...
-
Rozpoznawanie elementów elektronicznych w obudowach SOT-23
PublicationProdukowane obecnie elementy elektroniczne do montażu powierzchniowego (SMD) mają tak małe obudowy, że producenci nie są w stanie umieszczać na nich dostatecznej ilości oznaczeń umożliwiających ich jednoznaczną identyfikację. Ponadto, podobnie jak w przypadku elementów do montażu przewlekanego, w obudowie jednego typu mogą być zamknięte różne rodzaje elementów. Przykładem takiej obudowy jest obudowa SOT-23 (Small Outline Transistor)....
-
Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...
-
Dynamika Układów o Zmiennej w Czasie Konfiguracji z Zastosowaniem Metody Sztywnych Elementów Skończonych i Technik Dynamiki Układów Wieloczłonowych
PublicationW pracy zaprezentowano wybrane wyniki badań i obliczeń przeprowadzonych przy wykorzystaniu metody hybrydowej polegającej na połączeniu istotnych elementów metody sztywnych elementów skończonych oraz metod dynamiki układów wieloczłonowych (wielomasowych). Powstające w ten sposób narzędzie pozwala uniknąć wielu niedogodności numerycznych wynikających z obecności bardzo dużych wartości obecnych w macierzy sztywności i konieczności...
-
Dynamika układów wielomasowych jako narzędzie do optymalizacji ustawienia elementów tłumiących drgania.
PublicationW niniejszej pracy opisano próbę połączenia problemów dynamiki układów wielomasowych i numerycznej optymalizacji. Zadano pytanie o możliwość optymalizacji własności tłumiących układu poprzez modyfikacje jedynie współczynników tłumienia. Skonfrontowano to z modyfikacją dopuszczającą ograniczoną zmianę ustawienia elementów tłumiących.
-
Zastosowanie hybrydowych systemów ekspertowych do wspomagania projektowania układów elektronicznych.
PublicationW pracy przedstawiono koncepcję i praktyczną realizację obiektowo zorientowanego hybrydowego systemu ekspertowego sterowanego regułami, współpracującego ze sztuczną siecią neuronową, systemem klasyfikatorów genetycznych i systemem z rozumowaniem sytuacyjnym. Jest to system hybrydowy i może być efektywnie wykorzystany do budowy złożonych systemów ekspertowych.
-
Dynamika i sterowanie układów modelowanych mieszaną metodą sztywnych i odkształcalnych elementów skończonych
PublicationPrzedstawiono mieszaną metodę sztywnych i odkształcalnych elementów skończonych oraz metodę sterowania optymalnego przy energetycznym wskaźniku jakości względem trajektorii ruchu zadanego jako skuteczne instrumentarium w rozwiązywaniu złożonych problemów dynamiki i sterowania niestacjonarnych oraz nieliniowych układów mechanicznych. Na ich bazie opracowano oryginalne sposoby nadzorowania, stanowiące istotny wkład do rozwoju wiedzy...
-
Dynamics of flexible multibody systems : Rigid finite element method.
PublicationW książce przedstawiono zagadnienie przekształceń jednorodnych, z punktu widzenia opisu dynamiki układów wielomasowych, złożonych z brył sztywnych. Omówiono metodę sztywnych elementów skończonych, w której model składa się z brył sztywnych połączonych elementami sprężystymi i tłumiącymi, a także jej wersję zmodyfikowaną. W modelu uwzględnia się duże przemieszczenia brył. Przedstawiono obliczenia dla belki wspornikowej oraz omówiono...
-
Cooling of electronic equipment by means of jets and microjets
PublicationW pracy przedstawiono rozwiązanie sprzężonej wymiany ciepła od uderzającej strugi cieczy oraz przewodzenia ciepła w łytce. Uzyskano proste zależności opisujące rozkład temperatur na płytce. Umożliwia to przeprowadzenie analizy wpływu różnych parametró na wymianę ciepła podczas chłodzenia urządzeń elektronicznych generujących ciepło.
-
Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits
PublicationW pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...
-
Technika sygnałów analogowych. - Tom 1,2
Publicationom I składa się z sześciu rozdziałów. W rozdziale 1 scharakteryzowano sygnały, elementy, układy i systemy analogowe. Poznanie właściwości elementów ma kluczowe znaczenie przy przewidywaniu właściwości zbudowanych z nich układów elektronicznych. Podobnie znajomość podstawowych praw rządzących rozkładami prądów i napięć ma zasadnicze znaczenie dla zrozumienia metod analizy układów elektronicznych. Rozdział 2 jest poświęcony liniowym...
-
Schematiclab.com – A web tool for the design and analysis of electrical circuits
PublicationIn this paper a useful Internet application for designing electronic systems is considered. A practical process of prototyping electronic devices by using such a dedicated web tool, hereinafter referred to as SchematicLab, is described. This solution, still in constant development, is now ready for use.
-
Schematiclab.com – A web tool for the design and analysis of electrical circuits
PublicationAlong with a general progress in the modern computational tools, dynamic development of Internet applications using the cloud methodology and solutions is now observed. Clearly, also the applications installed locally, and being commonly used previously, are gradually gaining their counterparts in computational network clouds. The clouds have also brought new service sales opportunities. Namely, the service sales model based on...
-
Ocena jakości elementów z węglika krzemu metodą pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości
PublicationPrzedstawiono zagadnienie powiązania parametrów szumowych elementów elektronicznych z jakością ich wykonania. Przedstawiono stan badań intensywności metod oceny jakości elementów elektronicznych przez pomiar ich parametrów szumowych oraz propozycję ich zastosowania do oceny jakości elementów z węglika krzemu.
-
The laboratory kit of EMC disturbances sources
PublicationPrzedstawiono podstawowe przyczyny powstawania zakłóceń w urządzeniach elektrycznych i elektronicznych oraz metody i sposoby ich analizy. Przedstawiono również koncepcje układów elektronicznych mających być wzorcowymi źródłami zaburzeń stosowanymi podczas ćwiczeń laboratoryjnych. Jako źródła zaburzeń małych i wysokich częstotliwości wybrano układy mogące być łatwo sterowane i zmieniane w celu wskazania konieczności stosowania rozwiązań...
-
Measurements of passive components using of an IEEE 1149.4 mixed-signal test bus
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych typu STA400. Zaprezentowano metody pomiaru rezystancji pojedynczych elementów z wykorzystaniem źródła prądowego oraz źródła VH znajdującego się w analogowych modułach ABM układu STA400. Pokazano...
-
Dyrektywa niskonapięciowa dla wybranych urządzeń automatyki
PublicationW artykule przedstawiono ogólne zalecenia normalizacyjne dotyczące łączników elektronicznych do instalacji elektrycznych. Zalecenia te dotyczą również układów automatyki - regulatorów prędkości obrotowej silników elektrycznych, sterowanych ściemniaczy światła, łączników elektronicznych z wbudowanym czujnikiem reagującym na temperaturę lub natężenie oświetlenia.
-
Zespół źródeł sygnałow zaburzających małych i wysokich częstotliwości
PublicationPrzedstawiono podstawowe przyczyny powstawania zakłóceń w urządzeniach elektrycznych i elektronicznych. Wskazano również główne drogi propagacji sygnałów zakłócających w zakresie małych i wysokich częstotliwości. Wskazano w referacie koncepcje układów elektronicznych mających być wzorcowymi źródłami zaburzeń stosowanymi podczas ćwiczeń laboratoryjnych.
-
Wstęp do elektroniki molekularnej
PublicationZastosowanie pojedynczych molekuł lub układów molekularnych do budowy elementów elektronicznych jest poważnym wyzwaniem dla inżynierów i naukowców, w chwili obecnej i w najbliższej przyszłości. celem tego skryptu jest przybliżenie czytelnikowi podstawowych zagadnień dotyczących elektroniki molekularnej, opartej zarówno na układach zbudowanych z wielu molekuł, jak i jednej molekuły. Jest ona przeznaczona dla studentów i pracowników...
-
Budowa i badania prototypowych podukładów funkcjonanych elektronicznych i energoelektronicznych, w tym wysokotemperaturowych, wykorzystujących opracowane elementy i przyrządy - zadanie 3. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur''
PublicationPrzedstawiono główne cele zadania 3. projektu zamawianego nt. ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości dużych mocy i wysokich temperatur''. Są to: badania typowych układów elektronicznych i energoelektronicznych z zastosowaniem kompercyjnych elementów i przyrządów z SiC w celu opracowania rozwiązań, które będą mogły być stosowane w praktyce i będą korzystniejsze niż zastosowane...
-
Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych.
PublicationPrzedmiotem pracy jest detekcja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych o architekturze w pełni różnicowej, cechującej się strukturalną redundancją ułatwiającą testowanie i diagnostykę. W oparciu o model matematyczny układów w pełni różnicowych, usystematyzowano metody ich testowania. Wykazano, że dotychczas stosowane metody są kosztowne w odniesieniu do układów ze wzmacniaczami operacyjnymi, w których zastosowano sprzężenie...
-
Naświetlanie schematów gęsto upakowanych połączeń elektrycznych za pomocą prototypowego urządzenia laserowego
PublicationPłytki drukowane są jednym z głównych elementów składowych urządzeń elektronicznych. Jednakże, dążenie do miniaturyzacji układów elektronicznych szczególnie widoczne w ostatnim dziesięcioleciu, wymusza miniaturyzację połączeń elektrycznych na płytkach drukowanych. Podstawowym parametrem określającym stopień miniaturyzacji połączeń elektrycznych na płytkach drukowanych jest tzw. gęstość upakowania ścieżek. Parametr ten klasyfikuje...
-
Elementy elektroniczne w środowisku dużej emisji elektromagnetycznej
PublicationW referacie przedstawiono rodzaje narażeń powodowanych impulsowymi zakłóceniami elektromagnetycznymi występującymi w środowisku urządzeń energoelektronicznych. Przedstawiono poziomy energii i źródła zakłóceń które stanowią wyładowania elektrostatyczne, przebiegi łączeniowe w obwodach indukcyjnych i wyładowania atmosferyczne. Przedstawiono sposoby badania odporności na zakłócenia impulsowe. Zaprezentowano wyniki uzyskane z przeprowadzonych...
-
Analiza działania substancji chemicznej na elementy sprzętu elektronicznego
PublicationW pracy dokonano analizy działania czynnika chłodniczego oraz środka gaśniczego, a także współoddziaływania obydwu powyższych na korozyjność elementów elektronicznych
-
Technika wyłączania, zmniejszająca skutki zwarć łukowych. - Tł. z Plant Engineering, March 2007. - Tyt. oryg.: Circuit breaker technology reduces arc flash risk / Patricia E. Chandler
PublicationW artykule podano sposoby zmniejszania skutków zwarć łukowych oraz opisano zalety nowoczesnych wyłączników ograniczających prądy zwarciowe. Podano możliwości układów elektronicznych w monitorowaniu parametrów elektrycznych instalacji, stanu pracy wyłączników i wykrywaniu zwarć.
-
Nowe rozwiązanie przetwornika prądu w diagnostyce prądowej silników idukcyjnych
PublicationWadą praktycznie wszystkich opublikowanych systemów do diagnostyki łożysk metodą pomiaru prądu zasilającego w silniku indukcyjnym jest niska jakość układów do pomiaru prądu. W prezentowanej pracy jako przetwornik prądu na napięcie zaproponowano transformator o wysokich parametrach, pracujący z przetwarzaniem prądu na napięcie. W referacie zostaną przedstawione wyniki badań przetwornika, które potwierdziły oczekiwane parametry -...
-
Zagadnienia osadzania elementów oraz kolejności podawania z uwzględnieniem ich wysokości
PublicationPrzedstawionom problem osadzania elementów sformułowany dla rzeczywistego procesu umieszczania elementów elektronicznych na płytasch drukowanych. Najpierw omówiono dokładnie sam problem osadzania elementów , własności technologiczne maszyny, parametry linii technologicznej oraz sformułowane cele do zrealizoweania. Następnie przedstawiono proponowane rozwiązanie tego problemu: omówiono wektory reprezentujące rozwiązanie, równania...
-
Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych
PublicationPrzedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...
-
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4
PublicationW artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych:...
-
Zdalne Laboratorium Elektroniki z Programem LTspice
PublicationCelem artykułu jest przedstawienie programu LTspice w otwartym dostępie, jako skutecznego narzędzia do nauczania elektroniki oraz symulacji układów elektronicznych na potrzeby zdalnego laboratorium. Na wybranych przykładach, realizowanych przez studentów: obwodów rezonansowych, stabilizatorów napięcia, wzmacniaczy operacyjnych w układach całkujących, filtrach, wzmacniaczy mocy wyjaśnione są metody analizy w dziedzinie czasu i...
-
Spektroskopia szumowa. Część II. Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce.
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiaru szumów 1/f tranzystorów z GaAs i ich analizę w spektroskopii. Opisano procedurę klasyfikacji na grupy o zróżnicowanej jakości półprzewodnikowych elementów mocy na podstawie wyników pomiaru szumów małoczęstotliwościowych. Szumy elektrochemiczne stanowią dogodne narzędzie do analizy korozji, zwłaszcza korozji wżerowej. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów ogniw słonecznych i ich porównanie z analizą niejednorodności...
-
Systemy do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości
PublicationPrzedstawiono schemat blokowy systemu do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych. Opisano najważniejsze podzespoły takiego systemu oraz ich wpływ na wyniki pomiaru szumów.